报告题目：面向产业化的可测试性设计及测试码产生

报 告 人：向东（清华大学教授，博士生导师）

报告时间：2019年11月6日（星期三）下午3：30

报告地点：计算机与信息学院会议室（C622）

主办单位：计算机与信息学院，科技处，研究生部

向东：清华大学教授，博士生导师，2004年获得国家自然科学基金委杰出青年基金；IEEE Senior Member, Senior member of CCF, and member of ACM；1987年、1990年毕业于重庆大学计算机科学与技术专业，并获得工学学士和工学硕士学位；1993年毕业于中国科学院计算技术研究所计算机系统结构专业，并获得工学博士学位；1993.3-1994.10为中国科学院计算技术研究所助理研究员；1994.10-1995.5为加拿大Concordia大学电子工程系博士后；1995.6-1996.7为美国伊利洛伊州立大学香槟分校博士后；1996.7-至今为清华大学副教授，教授及博士生导师。主持国家项目15项；在《IEEE Transactions on  Computers》《IEEE Trans. on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems》《IEEE Transactions on Computer-Aided Design》《IEEE Transactions on VLSI Systems》《ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems》《IEEE Transactions on Parallel and Distributed Systems》《IEEE Transactions on Reliability》《IEEE Transactions on Evolutionary Computation》IEEE、ACM汇刊和国际顶级会议等发表学术论文100余篇。获得与计算机学科相关授权国际发明专利5项，中国发明专利40余项。主要研究领域：数字VLSI测试与设计，可测试性设计，测试码产生，扫描自测试，及片上网络测试；容错计算，片上网络，并行/分布式处理，高性能计算机互连。